Archive for: Научные фото

071118-1

071118-1

Автор(ы): Dusha, Ute Kaiser (Uni Jena) Два встречных дефекта упаковки в 4H-SiC. Изображение получено на микроскопе JEM-3010 в зоне [2 -1 -1 0] карбида. Источник: Нанометр

 
 

071118-2

071118-2

Автор(ы): Dusha, Ute Kaiser (Uni Jena, Germany) Кристаллик Ge в матрице 4H-SiC. Образец получен в университете г.Йена путем ионной имплантации и последующего отжига. Изображение получено на микроскопе JEM-3010 в зоне [2 -1 -1 0] матрицы. Особенности контраста кристаллика позволяют говорить о том, что он имеет гексагональную упаковку и ориентирован направлением […]

 
 

071118-14

071118-14

Автор(ы): Гаврилов Антон, Коленько Юрий Источник: Нанометр

 
 

071118-15

071118-15

Автор(ы): Гаврилов Антон, Гаршев Алексей Источник: Нанометр

 
 

071118-7

071118-7

Автор(ы): Ефименко Л.П., Пугачев К.Э., Голубев К.С. Частицы ZrO2 размером порядка 75 нм прочно закреплены на подложке силикатным золем. Данный способ фиксации наночастиц дает возможность провести их метрологию методом атомно-силовой микроскопии. Изображение получено на атомно-силовом микроскопе NTEGRA. Источник: Нанометр