13

Автор(ы): Dusha, Александр Окотруб (ИНХ СО РАН)

Изображение фуллеренового (С60) кристалла с разрешением структуры. Фотография получена на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2010 при ускоряющем напряжении 200кВ без охлаждения. Исходная пленка была полностью окристаллизована. Под воздействием пучка просходит быстрое разрушение структуры: изображение получено в течение 1 мин с начала облучения данного участка, в последующем структура полностью аморфизуется.

Источник: Нанометр